X線Pole Figure法による強誘電性有機低分子薄膜の精密構造解析(有機EL及び関連有機材料, 低温poly-Siと有機TFT技術と一般)
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概要
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これまで、結晶多形を有する有機強誘電体ポリフッ化ビニリデン(PVDF)の低分子量・低鎖長分布オリゴマー薄膜において、力学的、電気的補助なしに強誘電I型結晶構造形成を可能としてきた。しかしながらこれまで赤外吸収スペクトルから分子配向および結晶構造を同定してきたが、定量的な強誘電性評価に不可欠な格子定数についての詳細な議論は行われてこなかった。本研究では、基板温度を制御した真空蒸着法により、分子が垂直配向したI型薄膜を作製し、薄膜面内外X線回折法により結晶構造評価を行った。通常の面外回折測定において、低角領域にI型分子長を反映した00l回折ピークが初めて観測された。またこの回折の極点(Pole Figure)測定から、c軸は基板に対し完全に垂直配向していることが明らかとなった。この結果から予想されるように、面内回折においてはhk0回折ピークのみが現れ、特に310、020回折ピークがフィッティングにより分離可能となったことから、VDFオリゴマーI型格子定数が斜方晶a=0.864nm、b=0.488nm、c=3.137nmと決定された。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-04-14
著者
-
松重 和美
Dep. Of Electronic Sci. And Engineering Kyoto Univ. Katsura Nishikyo Kyoto 615-8510 Japaninnovative
-
松重 和美
京大工
-
松重 和美
九大・工
-
山田 啓文
Dep. Of Electronic Sci. And Engineering Kyoto Univ. Katsura Nishikyo Kyoto 615-8510 Japaninnovative
-
石田 謙司
神戸大学 大学院工学研究応用化学専攻
-
山田 啓文
京都大学大学院工学研究科
-
堀内 俊寿
京都大学大学院工学研究科
-
松重 和美
京都大学大学院工学研究科
-
山田 啓文
京都大学工学研究科電子工学専攻
-
石田 謙司
神戸大学
-
山田 啓文
Department Of Electronic Science And Engineering Kyoto University
-
桑島 修一郎
京都大学ナノテクノロジー総合支援プロジェクト
-
石田 謙司
京都大学大学院工学研究科
-
Ishida Koichi
Optoelectronics Joint Research Laboratory:(present Address) Fundamental Research Laboratories Nec Co
-
Ishida K
Optoelectronics Joint Research Laboratory
-
Ishida K
Semiconductor System Engineering Center Toshiba Corporation
-
松重 和美
京都大学工学研究科電子物性工学専攻
-
Ishida Kohtaro
Department Of Physics Science University Of Tokyo
-
Ishida K
Yamagata Univ. Yamagata Jpn
-
桑島 修一郎
京都大学
-
石田 謙司
神戸大学工学部応用化学科:神戸大学大学院工学研究科応用化学専攻
-
Ishida Kazutaka
Electronic Devices Company Ricoh Co. Ltd.
-
石田 謙司
神戸大学 大学院工学研究科
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