X線反射率測定による銀ナノ微粒子多層膜の構造評価
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概要
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長鎖アルキル基により覆われた銀ナノ微粒子の単層および多層構造をX線反射率測定から考察した。単層膜のX線反射率プロファイルにおいて、基板の表面処理とは無関係に, 臨界角以上にブロードな"Kiessig fring"が観測された。この微粒子単層膜を均一な層モデルと比較したところ、低角領域において安定的には等しいことが示唆された。一方、5層膜において明瞭なBraggピークが現れたことから、この多層膜が周期多層膜であることが明らかとなった。これらの事実から、被覆された銀ナノ微粒子がその形状を保ちつつ、単層および多層構造を形成していることが示された。さらに、5層膜における層間隔は7.2nmであり、これは微粒子の直径よりもわずかに小さいものであった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-10-20
著者
-
桜井 健次
独立行政法人物質・材料研究機構
-
八瀬 清志
産業技術総合研究所光技術研究部門
-
吉田 郵司
産業技術総合研究所光技術研究部門
-
桜井 健次
物質・材料研究機構
-
桜井 健次
物質・材料研究機構 材料研
-
桜井 健次
(独)物質・材料研究機構 放射光解析グループ
-
八瀬 清志
広島大学生物生産学部
-
谷垣 宣孝
産業技術総合研究所 光技術研究部門
-
桑島 修一郎
京都大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー
-
桑島 修一郎
通商産業省工業技術院物質工学工業技術研究所
-
吉田 郵司
通商産業省工業技術院物質工学工業技術研究所
-
安部 浩司
通商産業省工業技術院物質工学工業技術研究所
-
谷垣 宣孝
通商産業省工業技術院物質工学工業技術研究所
-
八瀬 清志
通商産業省工業技術院物質工学工業技術研究所
-
長澤 浩
大阪市立大学
-
桜井 健次
科学技術庁金属材料技術研究所
-
長澤 浩
大阪市大理
-
ハ瀬 清志
産業技術総合研究所光技術研究部門
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