X線反射率法の応用について : 薄膜・多層膜の埋もれた層・界面の密度, 膜厚, ラフネスの決定
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概要
著者
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桜井 健次
独立行政法人物質・材料研究機構
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桜井 健次
物質・材料研究機構
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桜井 健次
物質・材料研究機構 材料研
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桜井 健次
(独)物質・材料研究機構材料研究所
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桜井 健次
(独)物質・材料研究機構 放射光解析グループ
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桜井 健次
(独)物質・材料研究機構 量子ビームセンター
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