高エネルギー放射光励起によるセリウム及びガドリニウムの蛍光X線Kスペクトルの測定(<特集>原子をみる)
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概要
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高エネルギ-蛍光X線法を用いることにより,バルク材料中のランタノイドの情報を共存する遷移金属元素等の影響無しに得ることができる.本研究では,放射光施設のウィグラー光源からの高エネルギ-放射光(60〜80keV)を励起光として,Ce及びGdのKβ蛍光X線スペクトルを測定した.Ge半導体検出器を用いたエネルギー分散型での測定では,Ce Kβスペクトルを比較的容易に取得可能であったが,スペクトル形状が使用するエレクトロニクスや蛍光X線強度により変化するという問題があることが分かった.更に高エネルギ-分解能のスペクトルを得るために,結晶モノクロメーターとイメージングプレートを用いた波長分散型での測定を試みた.その結果,Gd Kβスペクトルを5本のピークに分離可能で,エネルギ-分解能は60eVであった.今後は,様々なランタノイド化合物の分析への応用が期待される.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 2006-06-05
著者
-
桜井 健次
独立行政法人物質・材料研究機構
-
河田 洋
物質構造科学研究所 高エネルギー加速器研究機構
-
桜井 健次
物質・材料研究機構
-
桜井 健次
物質・材料研究機構 材料研
-
桜井 健次
(独)物質・材料研究機構材料研究所
-
桜井 健次
(独)物質・材料研究機構 放射光解析グループ
-
河田 洋
物質構造科学研究所
-
原田 雅章
福岡教育大学教育学部
-
庄司 雅彦
物質・材料研究機構
-
桜井 健次
(独)物質・材料研究機構 量子ビームセンター
-
原田 雅章
福岡教育大学化学教室
-
原田 雅章
福岡教育大学
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