入門講座 分析試験法編(12)広域X線吸収微細構造(EXAFS)法

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概要

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著者

• 桜井 健次

  物質・材料研究機構

• 桜井 健次

  (独)物質・材料研究機構 放射光解析グループ

関連論文

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• 投影型X線回折イメージング法による液体金属ガリウムの凝固・融解時不均一結晶組織の in situ 観察
• X線反射率法による固液界面分析
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• 蛍光X線顕微鏡 : 位置走査を必要としない元素イメージング技術を中心に
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• 2006年X線分析関連文献総合報告
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• 中性子反射率による表面・薄膜界面の研究
• 高速蛍光X線イメージング法によるZnGa2O4コンビナトリアル試料の迅速評価
• X線吸収スペクトルによる亜鉛ガリウム酸化物ナノ粒子の結晶性評価
• 有機金属分解法によって作製したY_2O_3薄膜のX線反射率測定
• 23aK-4 ZnSナノ結晶中にドープされたMnイオンの局所構造
• X線反射率測定による銀ナノ微粒子多層膜の構造評価
• 全反射現象及び微小角入射配置を用いたX線回折・散乱分析法
• 全反射蛍光X線分析
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• X線中性子線反射率/散乱法による薄膜・多層膜の構造研究の新展開
• 高エネルギー放射光励起によるセリウム及びガドリニウムの蛍光X線Kスペクトルの測定(原子をみる)
• 庶務幹事この1年
• 投影型蛍光X線イメージング法による高速元素マッピング
• 第37回X線分析討論会報告
• 2005年X線分析関連文献総合報告
• 展望 蛍光X線顕微鏡:位置走査を必要としない元素イメージング技術を中心に
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• 波長分散型全反射蛍光X線分析法による環境水中微量元素分析のための試料調製法の検討
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