全反射蛍光X線分析
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 日本分析化学会の論文
- 1997-07-05
著者
-
桜井 健次
物質・材料研究機構
-
桜井 健次
物質・材料研究機構 材料研
-
桜井 健次
(独)物質・材料研究機構 放射光解析グループ
-
桜井 健次
科学技術庁金属材料技術研究所
-
STOEV Krassimir
科学技術庁金属材料技術研究所
関連論文
- 蛍光X線分光法による超微量分析--新しい高効率波長分散型X線分光器の開発と高輝度シンクロトロン放射光による全反射蛍光X線分光法への応用 (MH賞)
- 窒化チタンを被覆した炭化タングステン-コバルト合金の残留応力測定に対するインプレーンX線回折法の適用(原子をみる)
- Au/Y_2O_3界面の低温化学反応の誘電緩和による解析
- 分析化学研究が目指すもの : 「分析化学の将来を問う」若手研究者懇談会より(分析評価・解析)
- 投影型X線回折イメージング法による液体金属ガリウムの凝固・融解時不均一結晶組織の in situ 観察
- X線反射率法による固液界面分析
- 二段階プロセスで成膜したイットリア薄膜の結晶性とフッ素系ハロゲンプラズマ耐性
- 投影型X線回折イメージング法による氷の融解・凝固過程のin-situ観察
- 高エネルギー蛍光X線(35〜60 keV)を高分解能分光するための機器開発
- 蛍光X線顕微鏡 : 位置走査を必要としない元素イメージング技術を中心に
- 非走査型蛍光X線イメージング法による動画計測技術
- X線反射率法による表面層解析における密度傾斜効果のシミュレーション
- 2006年X線分析関連文献総合報告
- 24pWG-3 鏡面X線反射強度曲線の時分割測定の開発(X線・粒子線(X線回折・核共鳴分光),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 22aTC-5 X線鏡面反射強度曲線の時分割測定を目指した新しい測定法の開発(X線・粒子線(X線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 中性子反射率による表面・薄膜界面の研究
- 高速蛍光X線イメージング法によるZnGa2O4コンビナトリアル試料の迅速評価
- X線吸収スペクトルによる亜鉛ガリウム酸化物ナノ粒子の結晶性評価
- 有機金属分解法によって作製したY_2O_3薄膜のX線反射率測定
- 23aK-4 ZnSナノ結晶中にドープされたMnイオンの局所構造
- X線反射率測定による銀ナノ微粒子多層膜の構造評価
- 全反射現象及び微小角入射配置を用いたX線回折・散乱分析法
- 全反射蛍光X線分析
- X線反射率法の応用について : 薄膜・多層膜の埋もれた層・界面の密度, 膜厚, ラフネスの決定
- X線中性子線反射率/散乱法による薄膜・多層膜の構造研究の新展開
- 高エネルギー放射光励起によるセリウム及びガドリニウムの蛍光X線Kスペクトルの測定(原子をみる)
- 庶務幹事この1年
- 投影型蛍光X線イメージング法による高速元素マッピング
- 第37回X線分析討論会報告
- 2005年X線分析関連文献総合報告
- 展望 蛍光X線顕微鏡:位置走査を必要としない元素イメージング技術を中心に
- SPring-8高輝度放射光を用いた超微量分析の現状
- 波長分散型全反射蛍光X線分析法による環境水中微量元素分析のための試料調製法の検討
- 希土類金属元素からのK発光X線スペクトル強度に影響を及ぼす要因の検討--化学結合効果観測の可能性
- 中性子反射率による表面・薄膜界面の研究
- 入門講座 分析試験法編(12)広域X線吸収微細構造(EXAFS)法
- 蛍光X線分析法による遷移金属のX線吸収スペクトル測定法の開発
- 放射光を利用した極微量照射欠陥の解析技術の確立 (特別企画 原子力基盤クロスオ-バ-研究の現状と今後の展開-7 最終回-放射線ビ-ム利用先端計測・分析技術分野について 7-2 高輝度放射光の先端利用のための基盤技術の研究開発)
- SR斜入射蛍光X線/反射率法--新しい薄膜のキャラクタリゼ-ション法
- X-ray analysis of Yb ultra thin film: comparison of gas deposition and ordinary vacuum evaporation
- 「原子をみる」特集号の刊行に当たって(原子をみる)
- 先端ナノヘテロ金属組織解析手法(22)最先端X線技術:X線吸収微細構造(XAFS)法
- ローランド円半径100ミリの超小型ヨハンソン型蛍光X線分光器の開発
- 先端ナノヘテロ金属組織解析手法(23)最先端X線技術:X線反射率法
- 動画撮像可能な蛍光X線顕微鏡の開発
- シンクロトロン放射を利用したX線分光分析
- オンライン将棋対局
- XAFS(X線吸収微細構造)用超強力X線源の開発
- 蛍光X線イメージングによる元素移動過程の動的観察
- X線による薄膜解析法
- Kβ蛍光X線スペクトルによるMnZnフェライトのMnサイトの識別と磁性評価
- Mn(II)のKβ'およびKβ5蛍光X線スペクトルの強度比変化--アンジュレータ放射光による微量化学状態分析の可能性