カラー情報の逆投影による多眼3次元計測

概要

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複数視点の画像を用い、画像間での特徴点対応をせずに3次元計測を行なう手法として、逆投影線が通過するvoxelへのvoing法が提案されている。しかし、その手法の多くは、あらかじめ各原画像抽出されたエッジ等の特徴点のみしか計測することはできず、各特徴点間の物体表面や、特徴点の抽出が不可能な面、曲面など輪郭エッジが画像間で対応しないような面を計測することは不可能である。そこで我々は、各原画像の全ての画素情報(輝度)を逆投影し、voxel空間内でその分散を評価することによって全ての物体表面を計測する画素情報の逆投影法(Backprojection of Pixel Data; BPP)を提案してきた。これまでの研究から、BPPは2種類の後処理を行うことによって、一般的な物体の計測が可能となっている。ここでは、これまでのBPPをカラー画像に拡張し、画素情報として色情報を逆投影した時の効果的な評価法と、逆投影時の量子化誤差を考慮に入れたエッジ点の評価法を検討したので報告する。
社団法人電子情報通信学会の論文
1996-03-11