特徴抽出の不要な多眼3次元計測 : 画素情報の逆投影に基づく全物体表面の計測

概要

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複数視点からの画像を用いて、特徴点対応をせずに3次元計測を行なう手法として、逆投影線上のvoxelへのvoing法が提案されている。しかし、これまでの方法は、あらかじめ各原画像からエッジ等の特徴点を抽出し、その特徴点に対してのみ逆投影を行っている。従って、その特徴点のみしか計測することはできず、各特徴点間の物体表面や、特徴点の抽出が不可能な点を計測することは不可能である。そこで我々は、あらかじめ各原画像から特徴点を抽出することなく、各原画像の全ての画素情報を逆投影し、その分散を評価することによって全ての物体表面を計測する方法を提案した。これまでの研究から、この方法は、表面に明らかな輝度変化を持つ物体に対しては有効であることがわかっている。また、類似の手法を用いた画像符号化の報告もされている。ここでは、これまでの画素情報の逆投影を基に、2種類の表面点決定処理を行うことによって、より一般的な物体の計測を可能にしたので報告する。
一般社団法人情報処理学会の論文
1995-03-15