オンチップテストシステムによるM系列発生回路の高速特性評価
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-03-07
著者
-
藤巻 朗
名古屋大学
-
古田 太
日立中央研究所
-
早川 尚夫
名古屋大学工学研究科
-
赤堀 旭
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
-
早川 尚夫
名古屋大学
-
早川 尚夫
名古屋大
-
早川 尚夫
名古屋大学工学部
-
古田 太
名古屋大学大学院工学研究科量子工学専攻
-
武内 伸夫
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
-
鈴木 康敏
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
-
竹内 伸夫
(株)nttドコモネットワーク開発部
-
鈴木 泰敏
名古屋大学工学研究科量子工学専攻
-
武内 伸夫
名古屋大学 工学研究科 量子工学専攻
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