C-8-13 Nb多層プロセスを用いて試作したシフトレジスタの測定評価(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-09-02
著者
-
日高 睦夫
超電導工学研究所
-
日野出 憲治
超電導工学研究所
-
佐藤 哲朗
超電導工学研究所
-
永沢 秀一
超電導工学研究所
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学府
-
藤巻 朗
名古屋大学
-
高木 一義
名古屋大学大学院情報科学研究科
-
高木 直史
名古屋大学大学院情報科学研究科
-
赤池 宏之
名古屋大学大学院工学研究科
-
北川 佳廣
超電導工学研究所
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院:crest-jst
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学研究院
-
吉川 信行
横浜国大工
-
日高 睦夫
財)国際超電導産業技術研究センター
-
高木 一義
名古屋大学大学院情報科学研究科:戦略的創造研究推進事業
-
高本 直史
名古屋大学
-
日高 睦夫
国際超電導産業技術研究セ
-
赤池 宏之
名古屋大学
-
永沢 秀一
超電導工学研
-
北川 佳廣
超電導工学研究所:crest-jst
-
藤 巻朗
名古屋大学 工学部
-
永沢 秀一
(財)国際超電導産業技術研究センター
-
日野出 憲治
(財)国際超電導産業技術研究センター
-
高木 一義
名古屋大学
-
高木 直史
名古屋大学
-
吉川 信行
横浜国立大学 工学部 電子情報工学科
-
永沢 秀一
Istec-srl
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