パストランジスタ論理SPLのテスト生成法について
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概要
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低消費電力化を実現するための回路構成方式パストランジスタ論理SPLが提案されており, 本報告ではそのテスト生成法について述べる. スイッチ(トランジスタ)レベルの回路でのオープン/ショート故障モデルを対象とする. トランジスタのstuck-off故障について, 電荷の捕捉を利用した2つの検出パターンを示し, これら検出パターンに対する, 回路delayに起因するテストの無効化問題とその解決条件について述べる. トランジスタのstuck-on故障については, 電流テスト法について述べた後, 論理テストで検出するための手法を提案する.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-10-09
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