故障検出困難度を利用したコンパクトなIDDQテスト集合生成法
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概要
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本論文は,IDDQテスト法を用いてブリッジ故障を検出するための,コンパクトなテストパターン集合を生成する手法について述べる.すでに提案されている乱数逐次改善法を用いたgreedy生成法では,検出が容易な故障から優先して検出するテストパターンが生成されていくという性質があるが,新手法では,それとは反対に,できるだけ検出が困難な故障から優先して検出されるようにテストパターンを生成することによって,テストパターン数がより少ないIDDQテスト集合を生成する.評価実験結果により有効性を示す.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2001-04-15
著者
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