テスト応答・テストベクトルオーバラッピングLSI検査法のためのスキャンチェーン線長を考慮したスキャンFFの並べ換え手法(設計技術と設計自動化,<特集>システムLSI設計とその技術)

概要

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LSIの大規模化にともない,フルスキャンテストの実行時間の増加が問題となっており,フルスキャンテストの高速化が望まれている.そのための手法として,フルスキャンアーキテクチャのままでハードウェアを新しく追加することなく,高速化する手法が提案されている.これは,テスト応答の一部を次のテストベクトルの一部として利用することでスキャンシフト量を削減する手法である.この手法の性能向上のため,スキャンチェーン中のFFの並べ換えを利用した手法が提案されているが,FFの並べ換えはLSIのレイアウト上の制約からつねに自由に行えるわけではない.本論文では,スキャンチェーンの総結線長制約の下でスキャンシフト量を最小化することを目的とした効果的なFFの並び順の決定法を提案する.ISCAS'89の大きい方の回路を用いた実験では,総結線長制約として元のスキャンチェーンの総結線長の2倍を与えた場合,制約なしに自由に並べ換えを行った場合に比べ,スキャンシフト量はほぼ同等程度で,スキャンチェーンの総結線長は1桁短縮されるという結果を得た.
2007-05-15