テスト応答・テストベクトルオーバラッピングLSI検査法のためのテスト入力系列生成手法(半導体テスト,<特集>ディペンダブルコンピューティング論文)

概要

論文の詳細を見る
LSIの大規模化に伴い,フルスキャンテストの時間の増加が問題となっており,フルスキャンテストの高速化が望まれている.そのための手法として,データ展開圧縮回路を披検査LSI内に組み込んでおき,テストデータ入力やテスト応答出力を高速化する手法が数多く提案されている.これに対してフルスキャンアーキテクチャのままでハードウェアを新しく追加することなく,高速化する手法が提案されている.これは,テスト応答の一部をテストベクトルの一部として利用することでスキャン入力量を削減する手法である.しかし,この手法は,スキャンチェーン中のFFの並べ換えが自由に行えることを前提としている.また,テスト応答を一部しかスキャンアウトしないために故障検出効率が低下する問題に対する対処法について,あまり議論されていない.本論文では,この手法の一部を基礎とし,FFの並べ換えを前提としないで,正当化技術とテストベクトルのドントケアビットを十分に利用した高速化手法を提案する.また,故障検出効率が低下した場合の救済手法について検討する.実験結果より本手法の有効性を示す.
社団法人電子情報通信学会の論文
2006-08-01