その場観測用全反射X線解析法による有機分子線蒸着膜の成長形態評価 : 有機物・高分子
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概要
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- 1996-07-10
著者
-
谷垣 宣孝
産業技術総合研究所 光技術研究部門
-
ハ瀬 清志
産業技術総合研究所光技術研究部門
-
吉田 郵司
産業技術総合研究所
-
吉田 郵司
物質研,高分子物理部
-
谷垣 宣孝
物質研,高分子物理部
-
八瀬 清志
物質研,高分子物理部
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