22aWB-9 SiO_2/Si(001)界面構造の原子スケール直接観察
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2000-09-10
著者
-
五十嵐 信行
日本電気(株)システムデバイス研究所
-
五十嵐 信行
日本電気株式会社システムデバイス研究所
-
五十嵐 信行
NECシステムデバイス研究所
-
渡部 宏治
日本電気株式会社システムデバイス研究所
-
宮本 良之
NECシステムデバイス・基礎研究本部基礎研究所
-
渡部 宏治
NECシステムデバイス研究所主任研究員
-
宮本 良之
Nec基礎研究所主任
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