Sio_2/Si 界面構造の原子スケール直接観察
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概要
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- 2001-12-20
著者
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五十嵐 信行
日本電気(株)システムデバイス研究所
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五十嵐 信行
日本電気株式会社システムデバイス研究所
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渡部 宏治
日本電気株式会社システムデバイス研究所
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五十嵐 信行
NECラボラトリーズ
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渡部 宏治
NECラボラトリーズ
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宮本 良之
NECラボラトリーズ
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宮本 良之
Nec基礎研究所主任
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