組込み自己テストによって高電磁環境下の周期的過渡故障を回避するプロセッサ
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概要
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- 2012-04-03
著者
-
サイサナソンカム アロムハック
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
-
福本 聡
首都大学東京 システムデザイン学部
-
根岸 正彦
首都大学東京 大学院 システムデザイン研究科
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