カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第7報) - マイクロホンに機械的な変形を起こす力の影響について -
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概要
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- 2001-10-01
著者
-
佐藤 宗純
産業技術総合研究所
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佐藤 宗純
産総研
-
佐藤 宗純
秋田県立大学システム科学技術学部電子情報システム学科
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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藤森 威
産総研
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堀内 竜三
産総研
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藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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藤森 威
Electrotechnical Laboratory
-
堀内 竜三
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 音響振動科
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