藤森 威 | 産業技術総合研究所計測標準研究部門
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概要
関連著者
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藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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佐藤 宗純
秋田県立大学システム科学技術学部電子情報システム学科
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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藤森 威
Electrotechnical Laboratory
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佐藤 宗純
電総研
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藤森 威
電総研
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堀内 竜三
電総研
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堀内 竜三
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 音響振動科
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佐藤 宗純
産業技術総合研究所
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藤森 威
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 音響振動科
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佐藤 宗純
産総研
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藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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藤森 威
産総研
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堀内 竜三
産総研
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堀内 竜三
産業技術総合研究所
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高橋 弘宜
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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藤森 威
電子技術総合研究所
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竹島 久志
仙台高等専門学校
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竹島 久志
仙台電波高専
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Miura H
Shizuoka Inst. Sci. And Technol. Fukuroi Jpn
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三浦 甫
Shizuoka Institute Of Science And Technology
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Miura Hajime
Shizuoka Institute Of Science And Technology
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高橋 弘宜
産業技術総合研究所
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根本 俊雄
明治大
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佐藤 宗純
電子技術総合研究所
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曽根 敏夫
Research Institute Of Electrical Communication Tohoku University
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鈴木 陽一
Research Institute of Electrical Communications, Tohoku University
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三浦 甫
静岡理工科大
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根本 俊雄
明治大学理工学部
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高橋 多助
日本品質保証機構
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高橋 多助
日本品質保証機構計量計測センター
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熊谷 正純
Sendai Radio Technical College
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竹島 久志
Sendai National College of Technology
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鈴木 陽一
Research Institute of Electrical Communication/Graduate School of Information Sciences, Tohoku University
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鈴木 陽一
東北大学電気通信研究所
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高橋 弘宜
産総研
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高橋 多助
JQA
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高橋 弘宣
産総研
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堀内 竜三
電子技術総合研究所
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熊谷 正純
仙台電波工業高等専門学校電子工学科
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三浦 甫
静岡理工科大学
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曽根 敏夫
東北大学電気通信研究所
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竹島 久志
仙台電波工業高等専門学校
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桐生 昭吾
産業技術総合研究所
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桐生 昭吾
産総研
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大内 良久
明治大学理工学部
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村上 幸生
Japan Quality Assurance Organization
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丸谷 義郎
Ntt Hi研
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落合 直文
Japan Quality Assurance Organization
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高橋 多助
Japan Quality Assurance Organization
-
丸谷 義郎
NTT, HI研
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落合 直文
(財)日本品質保証機構
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三浦 甫
Sizuoka Institute of Science and Technology
著作論文
- 超低周波域における標準マイクロホンの音圧校正について
- 超低周波領域における音響標準の開発の現状
- 静電アクチュエータによるマイクロホンの校正精度
- クロススペクトル法を用いた低ノイズファンの騒音測定法に関する考察
- 音響測定器の適合性判定における測定の不確かさの扱い
- クロススペクトル法を用いた低ノイズファンの騒音測定
- マイクロホンの違いによる音場補正量の違いについて
- 音響計測における不確かさ(やさしい解説)
- II形標準マイクロホンの音響中心位置の測定
- I形標準マイクロホンの音場補正量の実測
- II形標準マイクロホンの音場補正量について
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第7報) - マイクロホンに機械的な変形を起こす力の影響について -
- II 形標準マイクロホンの音場補正量について
- トピックス39 無響室と計測(〈特集〉-音響学における20世紀の成果と21世紀に残された課題-)
- トピックス38 標準マイクロホン(〈特集〉-音響学における20世紀の成果と21世紀に残された課題-)
- 標準マイクロホンの音場絶対校正における測定再現性について
- II形標準マイクロホンの音場絶対校正
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第6報) -測定時にマイクロホンに加わる歪みの影響について-
- マルチマイクロホン球形インテンシティプローブ
- 球形インテンシティプローブの特性について -平面波音場における特性-
- 空中超音波帯域における音響標準の開発(超高周波音の効果に関する最近の話題)
- JCSSにおける音響計測分野のトレーサビリティ
- 自由音場における純音の最小可聴値
- II形標準マイクロホン音響中心の位置測定の安定性
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第5報) -マイクロホンとプリアンプの接続部に加わる接触圧の影響について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第4報) -マイクロホンの不安定性の原因について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第3報) -I型標準マイクロホンB&K4160の場合-
- 音場校正における伝達特性測定誤差の検討 -無響室中の空気乱れの影響-
- JQAにおける音響標準校正装置について
- 音響標準と音響計測の研究 (シリーズ特集 電総研2000年--研究の現状と今後の展開の方向(3)計測標準技術分野)
- 恒常法による等ラウドネスレベルの測定 : 自由音場における純音の等ラウドネスレベル曲線(II)
- 自由音場における純音の最小可聴値
- 音響計測分野でのトレ-サビリティ (特集 音響関連JISの国際整合化)
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第2報) -マイクロホンの静電容量の安定性との関係について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因--1形標準コンデンサマイクロホンの安定性について
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因 -マイクロホン自体の安定性について-
- II型標準マイクロホンの音場補正量の測定(第6報) -高周波数域での音響中心測定値の再現性-
- II型標準マイクロホンの音場補正量の測定(第5報) -音響中心測定値の再現性について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の安定性について -I形標準マイクロホンの場合-
- 標準コンデンサマイクロホン・カプラ校正システムの音響系測定精度の向上--10kHz以上における電圧減衰量の時間変化の原因
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第6報) -10kHz以上における電圧減衰量の時間変化の原因-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第5報) -セッティング方法に関係する電圧減衰量の時間変化の原因-
- 標準コンデンサマイクロホン・カプラ校正システムの電気的精度の向上
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第4報) -セッティング直後における電圧減衰量の時間変化の原因-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第3報) -電圧減衰量の温度係数・圧力係数の実測値による補正-
- カプラ校成法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定再現性
- 学会誌を読んでみて (学会誌の在り方)