藤森 威 | Electrotechnical Laboratory
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概要
関連著者
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藤森 威
Electrotechnical Laboratory
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藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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佐藤 宗純
秋田県立大学システム科学技術学部電子情報システム学科
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堀内 竜三
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 音響振動科
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佐藤 宗純
産業技術総合研究所
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佐藤 宗純
電総研
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藤森 威
電総研
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堀内 竜三
電総研
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佐藤 宗純
産総研
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藤森 威
産総研
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堀内 竜三
産総研
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高橋 弘宜
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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堀内 竜三
産業技術総合研究所
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藤森 威
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 音響振動科
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藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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藤森 威
電子技術総合研究所
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Miura H
Shizuoka Inst. Sci. And Technol. Fukuroi Jpn
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三浦 甫
Shizuoka Institute Of Science And Technology
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Miura Hajime
Shizuoka Institute Of Science And Technology
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竹島 久志
仙台高等専門学校
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竹島 久志
仙台電波高専
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高橋 弘宜
産業技術総合研究所
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曽根 敏夫
Research Institute Of Electrical Communication Tohoku University
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鈴木 陽一
Research Institute of Electrical Communications, Tohoku University
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熊谷 正純
Sendai Radio Technical College
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竹島 久志
Sendai National College of Technology
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鈴木 陽一
Research Institute of Electrical Communication/Graduate School of Information Sciences, Tohoku University
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鈴木 陽一
東北大学電気通信研究所
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山田 伸志
放送大学山梨学習センター
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山田 伸志
山梨大学工学部
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塩田 正純
飛島建設(株)
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高橋 弘宜
産総研
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高橋 多助
JQA
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高橋 弘宣
産総研
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前川 純一
神戸大学
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犬飼 幸男
(独)産業技術総合研究所
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熊谷 正純
仙台電波工業高等専門学校電子工学科
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曽根 敏夫
東北大学電気通信研究所
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竹島 久志
仙台電波工業高等専門学校
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塩田 正純
飛島建設(株)技術研究所
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犬飼 幸男
産総研
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犬飼 幸男
製品科学研究所
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岡田 健
石川島防音工業
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山下 充康
(財)小林理学研究所
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前川 純一
神戸大学工学部
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三浦 甫
静岡理工科大
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高橋 多助
日本品質保証機構
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高橋 多助
日本品質保証機構計量計測センター
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三浦 甫
Sizuoka Institute of Science and Technology
著作論文
- 超低周波域における標準マイクロホンの音圧校正について
- 超低周波領域における音響標準の開発の現状
- 静電アクチュエータによるマイクロホンの校正精度
- クロススペクトル法を用いた低ノイズファンの騒音測定法に関する考察
- クロススペクトル法を用いた低ノイズファンの騒音測定
- マイクロホンの違いによる音場補正量の違いについて
- II形標準マイクロホンの音響中心位置の測定
- I形標準マイクロホンの音場補正量の実測
- II形標準マイクロホンの音場補正量について
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第7報) - マイクロホンに機械的な変形を起こす力の影響について -
- II 形標準マイクロホンの音場補正量について
- 標準マイクロホンの音場絶対校正における測定再現性について
- II形標準マイクロホンの音場絶対校正
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第6報) -測定時にマイクロホンに加わる歪みの影響について-
- 1985年秋季にヨーロッパで開催された騒音関係国際会議の報告
- 空中超音波帯域における音響標準の開発(超高周波音の効果に関する最近の話題)
- 自由音場における純音の最小可聴値
- II形標準マイクロホン音響中心の位置測定の安定性
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第5報) -マイクロホンとプリアンプの接続部に加わる接触圧の影響について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第4報) -マイクロホンの不安定性の原因について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第3報) -I型標準マイクロホンB&K4160の場合-
- 音場校正における伝達特性測定誤差の検討 -無響室中の空気乱れの影響-
- 恒常法による等ラウドネスレベルの測定 : 自由音場における純音の等ラウドネスレベル曲線(II)
- 自由音場における純音の最小可聴値
- 音響計測用ミニコンピュ-タシステム (音響精密計測特集-2-コンピュ-タ利用計測システム)
- 学会誌を読んでみて (学会誌の在り方)
- 音響精密計測におけるLAの実際(ラボラトリーオートメーション)