佐藤 宗純 | 電総研
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概要
関連著者
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佐藤 宗純
電総研
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佐藤 宗純
秋田県立大学システム科学技術学部電子情報システム学科
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藤森 威
電総研
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藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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堀内 竜三
電総研
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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菊池 恒男
電総研
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菊池 恒男
Nmij 産総研
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佐藤 宗純
秋田県大 システム科学技術
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佐藤 宗純
NMIJ 産総研
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藤森 威
Electrotechnical Laboratory
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堀内 竜三
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 音響振動科
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根本 俊雄
明治大
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佐藤 宗純
電子技術総合研究所
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飯高 弘
電総研
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丸山 幸夫
福島県立医科大学第一内科
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丸山 幸夫
福島県立医科大学 医学部 臨床検査医学講座/内科学第一講座
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中澤 敏弘
福島県立医大第一内科
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蘆原 郁
産業技術総合研究所
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桐生 昭吾
電総研
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桐生 昭吾
産業技術総合研究所
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桐生 昭吾
産総研
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蘆原 郁
電総研
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原田 烈光
アロカ研究所
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原田 烈光
アロカ研究所・アロカ株式会社
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原田 烈光
アロカ(株)研究所
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吉岡 正裕
電総研
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吉岡 正裕
産業技術総合研究所 計測標準研究部門
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三浦 甫
静岡理工科大
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菊池 恒男
産業技術総合研究所nmu(計測標準研究部門)
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原田 烈光
アロカ(株)・研究所
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佐藤 比呂光
アロカ(株)研究所
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賀戸 久
電総研
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橋本 義浩
明治大
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村田 吉和
住友電気工業株式会社
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村田 吉和
住友電工
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三浦 甫
電総研
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藤森 威
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 音響振動科
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村田 吉和
住友電気工業
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原田 烈光
アロカ株式会社
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佐藤 宗純
産業技術総合研究所
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長尾 紳一郎
電総研
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古川 哲夫
Department of Internal Medicine I, Fukushima Medical University School of Medicine
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賀戸 久
金沢工業大学先端電子技術応用研究所
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野呂 昌弘
明治大
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青木 茂雄
ホシデン・フィリップス・ディスプレイ株式会社研究部
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古川 哲夫
福島県立医科大学第一内科
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樋口 利行
福島県立医科大学 第1内科
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賀戸 久
金沢工業大学
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樋口 利行
福島県立医大第一内科
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古川 哲夫
Department Of Internal Medicine I Fukushima Medical University School Of Medicine
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東海林 彰
電総研
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東海林 彰
(独)産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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神代 暁
電総研
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三浦 甫
静岡理工科大学
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宮倉 隆志
ホシデン株式会社
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宮倉 隆志
ホシデン
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榊原 直樹
明治大
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根本 俊雄
明治大学理工学部
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池田 健治
明治大学理工学部
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石田 毅志
明治大学工学部
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青木 茂雄
ホシデン
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大内 良久
明治大学理工学部
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蘆原 郁
電子技術総合研究所
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安田 護
ホシデン
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中村 忠夫
ホシデン
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村上 幸生
Japan Quality Assurance Organization
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神代 曉
電子技術総合研究所
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丸谷 義郎
Ntt Hi研
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高橋 多助
日本品質保証機構
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高橋 多助
日本品質保証機構計量計測センター
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神代 暁
産業技術総合研
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落合 直文
Japan Quality Assurance Organization
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高橋 多助
Japan Quality Assurance Organization
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丸谷 義郎
NTT, HI研
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落合 直文
(財)日本品質保証機構
著作論文
- RK03 超音波エコー信号のスペクトル形状の数値化による肝疾患定量診断(ポスターセッションIII)
- 超音波診断装置をベースにした肝組織性状診断システムの開発-正常肝, 肝硬変及び脂肪肝患者の臨床データ解析結果-
- フラクタル次元による肝線維化量計測 -超音波診断装置を用いた計測系の構築及び臨床計測結果-
- PA-17 フラクタル理論によるパワースペクトル形状評価法 : フラクタル次元によるラットの肝線維化量の定量評価(P.ポスターセッションA-概要講演・展示)
- II 形標準マイクロホンの音場補正量について
- トピックス39 無響室と計測(〈特集〉-音響学における20世紀の成果と21世紀に残された課題-)
- トピックス38 標準マイクロホン(〈特集〉-音響学における20世紀の成果と21世紀に残された課題-)
- 標準マイクロホンの音場絶対校正における測定再現性について
- II形標準マイクロホンの音場絶対校正
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第6報) -測定時にマイクロホンに加わる歪みの影響について-
- PF-10 天秤法による超音波パワー精密計測 : 超音波による発熱に伴う浮力変動の影響
- 天秤法による超音波パワー計測における誤差要因 -受圧板形状・材質に起因する要因-
- 放射圧計測系による超音波パワー計測の基礎実験
- LiNbO_3上に作製したジョセフソン接合のIV特性
- PB5 大口径傾斜回転型超音波振動子を用いた点散乱体群の3次元画像(ポスターセッションB)
- 光ファイバを用いた振動ベクトルセンサの基礎的検討
- 光ファイバを用いた渦流速センサの感度向上
- 光ファイバ渦流速センサの感度向上
- (24) 海洋光ファイバ流速センサに関する基礎的研究 : 平成5年春季講演論文概要
- 海洋光ファイバ流速センサに関する基礎的研究 : 第1報
- 周波数軸方向の線形予測を用いた音声スペクトルの再現
- 倍音構造を持つがエンベローブが定常なmaskerを用いたComodulation Masking Release
- 球形インテンシティプローブの特性について -平面波音場における特性-
- 光ファイバセンサ--次世代の計測・自動化を担う (光エレクトロニクスが21世紀を導く!!)
- 周波数軸上の線形予測を用いた音声選択処理システム
- ケプストラムの時間変化に着目した音声強調
- 電子ビーム溶接された振動膜を用いたコンデンサマイクロホンの試作
- PB11 wavelet変換を応用した不均質媒質の高分解能計測 : メッシュ構造試料(ポスターセッション概要講演)
- 2PH-3 超音波エコー波形解析による散乱体平均間隔の推定 : 平均間隔とばらつきの分離推定の試み(医用超音波,ポスターセッション(概要講演))
- 2-PE-2 フラクタル理論によるパワースペクトル形状評価法 : フラクタル特徴量によるマッピング(2-P.ポスターセッション(概要講演))
- B-16 超音波散乱波パワースペクトルの特徴抽出による散乱体間隔のランダム度の評価(ポスターセッション)
- レーザ干渉計を用いた超音波音圧測定系の構築
- II形標準マイクロホン音響中心の位置測定の安定性
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第5報) -マイクロホンとプリアンプの接続部に加わる接触圧の影響について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第4報) -マイクロホンの不安定性の原因について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第3報) -I型標準マイクロホンB&K4160の場合-
- 音場校正における伝達特性測定誤差の検討 -無響室中の空気乱れの影響-
- JQAにおける音響標準校正装置について
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第2報) -マイクロホンの静電容量の安定性との関係について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因 -マイクロホン自体の安定性について-
- II型標準マイクロホンの音場補正量の測定(第6報) -高周波数域での音響中心測定値の再現性-
- II型標準マイクロホンの音場補正量の測定(第5報) -音響中心測定値の再現性について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の安定性について -I形標準マイクロホンの場合-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第6報) -10kHz以上における電圧減衰量の時間変化の原因-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第5報) -セッティング方法に関係する電圧減衰量の時間変化の原因-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第4報) -セッティング直後における電圧減衰量の時間変化の原因-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第3報) -電圧減衰量の温度係数・圧力係数の実測値による補正-
- 天秤法による超音波パワー測定における「不確かさ」の基礎的検討 - 振動子セッティングの再現性 -
- 超音波標準を目的とした天秤法による超音波放射力測定システムの構築