堀内 竜三 | 産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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概要
関連著者
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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佐藤 宗純
秋田県立大学システム科学技術学部電子情報システム学科
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藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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堀内 竜三
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 音響振動科
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佐藤 宗純
電総研
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堀内 竜三
電総研
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藤森 威
Electrotechnical Laboratory
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電総研
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堀内 竜三
産業技術総合研究所
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佐藤 宗純
産業技術総合研究所
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堀内 竜三
(独)産業技術総合研究所
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瀧浪 弘章
リオン(株)
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瀧浪 弘章
リオン
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舘野 誠
リオン(株)
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舘野 誠
リオン(株)聴能技術部
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舘野 誠
リオン
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佐藤 宗純
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高橋 弘宜
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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藤森 威
産総研
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堀内 竜三
産総研
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藤森 威
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 音響振動科
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藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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村上 聖
リオン
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高橋 弘宜
産業技術総合研究所
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佐藤 宗純
電子技術総合研究所
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堀内 竜三
電子技術総合研究所
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三浦 甫
静岡理工科大学
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三浦 甫
静岡理工科大
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高橋 多助
日本品質保証機構
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高橋 多助
日本品質保証機構計量計測センター
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青木 茂雄
ホシデン・フィリップス・ディスプレイ株式会社研究部
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菊池 恒男
電総研
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菊池 恒男
Nmij 産総研
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佐藤 宗純
秋田県立大学システム科学技術学部
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菊池 恒男
電子技術総合研究所
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高橋 弘宜
産総研
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高橋 多助
JQA
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高橋 弘宣
産総研
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板垣 賢治
武蔵工業大学
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蘆原 郁
産業技術総合研究所
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桐生 昭吾
武蔵工業大学
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桐生 昭吾
東京都市大学
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館野 誠
仙台電波高専
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宮倉 隆志
ホシデン株式会社
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宮倉 隆志
ホシデン
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藤森 威
電子技術総合研究所
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館野 誠
リオン(株)
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青木 茂雄
ホシデン
-
蘆原 郁
電子技術総合研究所
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村上 聖
リオン(株)
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安田 護
ホシデン
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中村 忠夫
ホシデン
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村上 幸生
Japan Quality Assurance Organization
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丸谷 義郎
Ntt Hi研
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落合 直文
Japan Quality Assurance Organization
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高橋 多助
Japan Quality Assurance Organization
-
丸谷 義郎
NTT, HI研
-
落合 直文
(財)日本品質保証機構
著作論文
- 超低周波域における標準マイクロホンの音圧校正について
- 計測用マイクロホン(マイクロホン開発における各種技術分野の動向)
- 超低周波領域における音響標準の開発の現状
- 静電アクチュエータによるマイクロホンの校正精度
- クロススペクトル法を用いた低ノイズファンの騒音測定法に関する考察
- クロススペクトル法を用いた低ノイズファンの騒音測定
- マイクロホンの違いによる音場補正量の違いについて
- II形標準マイクロホンの音響中心位置の測定
- I形標準マイクロホンの音場補正量の実測
- II形標準マイクロホンの音場補正量について
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第7報) - マイクロホンに機械的な変形を起こす力の影響について -
- II 形標準マイクロホンの音場補正量について
- 断面の直径が一様でない棒鈴の振動モード解析
- 標準マイクロホンの音場絶対校正における測定再現性について
- II形標準マイクロホンの音場絶対校正
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第6報) -測定時にマイクロホンに加わる歪みの影響について-
- 櫛型フィルタと周波数変換器を用いたハウリング低減法のハードウェア実装(立体音響・トランスデューサ/一般)
- 三味線の発音機構の解析 : 楽器音の立ち上がり部の波形と皮・駒・撥各部の振動波形の比較
- IEC/TC29"電気音響"東京会議
- IEC/TC29"電気音響"Kista/Sweden会議
- IEC/TC29"電気音響" Kista/Sweden 会議
- IEC/TC29"電気音響"バルセロナ会議
- IEC/TC29"電気音響"バルセロナ会議
- IEC/TC29"電気音響"Mississauga会議
- IEC/TC 29"電気音響" Mississauga 会議
- IEC/TC29"電気音響"フランクフルト会議(2002)
- IEC/TC29"電気音響"フランクフルト会議(2002)
- 電子ビーム溶接された振動膜を用いたコンデンサマイクロホンの試作
- 空中超音波帯域における音響標準の開発(超高周波音の効果に関する最近の話題)
- JCSSにおける音響計測分野のトレーサビリティ
- IEC/TC29"電気音響"Charlottenlund会議
- II形標準マイクロホン音響中心の位置測定の安定性
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第5報) -マイクロホンとプリアンプの接続部に加わる接触圧の影響について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第4報) -マイクロホンの不安定性の原因について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第3報) -I型標準マイクロホンB&K4160の場合-
- 音場校正における伝達特性測定誤差の検討 -無響室中の空気乱れの影響-
- JQAにおける音響標準校正装置について
- IEC/TC29"電気音響"Charlottenlund 会議
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第2報) -マイクロホンの静電容量の安定性との関係について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因--1形標準コンデンサマイクロホンの安定性について
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因 -マイクロホン自体の安定性について-
- II型標準マイクロホンの音場補正量の測定(第6報) -高周波数域での音響中心測定値の再現性-
- II型標準マイクロホンの音場補正量の測定(第5報) -音響中心測定値の再現性について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の安定性について -I形標準マイクロホンの場合-
- 標準コンデンサマイクロホン・カプラ校正システムの音響系測定精度の向上--10kHz以上における電圧減衰量の時間変化の原因
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第6報) -10kHz以上における電圧減衰量の時間変化の原因-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第5報) -セッティング方法に関係する電圧減衰量の時間変化の原因-
- 標準コンデンサマイクロホン・カプラ校正システムの電気的精度の向上
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第4報) -セッティング直後における電圧減衰量の時間変化の原因-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第3報) -電圧減衰量の温度係数・圧力係数の実測値による補正-
- カプラ校成法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定再現性