標準コンデンサマイクロホン・カプラ校正システムの音響系測定精度の向上--10kHz以上における電圧減衰量の時間変化の原因
スポンサーリンク
概要
著者
-
佐藤 宗純
秋田県立大学システム科学技術学部電子情報システム学科
-
堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
-
藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門
-
堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門
関連論文
- 聴覚刺激とともに提示した視覚刺激の差異がラウドネス知覚に与える影響に関する一考察 (応用音響)
- 超低周波域における標準マイクロホンの音圧校正について
- 線形予測を用いて推定されたHRIRの主観評価 : 推定HRIRの使用条件による評価の差に関する考察
- 線形予測を用いて推定されたHRIRの主観評価 : 実測HRIRとの聴感上の差と物理特性との関係(聴覚・音響信号処理/一般)
- 線形予測を用いて推定されたHRIRの主観評価に関する一考察(立体音響/音楽音響/一般)
- 計測用マイクロホン(マイクロホン開発における各種技術分野の動向)
- 超低周波領域における音響標準の開発の現状
- 静電アクチュエータによるマイクロホンの校正精度
- クロススペクトル法を用いた低ノイズファンの騒音測定法に関する考察
- 音響測定器の適合性判定における測定の不確かさの扱い