カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第4報) -セッティング直後における電圧減衰量の時間変化の原因-
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概要
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- 1995-09-01
著者
-
佐藤 宗純
電総研
-
佐藤 宗純
秋田県立大学システム科学技術学部電子情報システム学科
-
堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
-
藤森 威
電総研
-
堀内 竜三
電総研
-
藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門
-
堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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