堀内 竜三 | 電総研
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概要
関連著者
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佐藤 宗純
電総研
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佐藤 宗純
秋田県立大学システム科学技術学部電子情報システム学科
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門音響振動科
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堀内 竜三
電総研
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堀内 竜三
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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藤森 威
電総研
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藤森 威
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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藤森 威
Electrotechnical Laboratory
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堀内 竜三
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 音響振動科
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佐藤 宗純
産業技術総合研究所
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青木 茂雄
ホシデン・フィリップス・ディスプレイ株式会社研究部
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三浦 甫
静岡理工科大学
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宮倉 隆志
ホシデン株式会社
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宮倉 隆志
ホシデン
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三浦 甫
静岡理工科大
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青木 茂雄
ホシデン
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安田 護
ホシデン
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中村 忠夫
ホシデン
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村上 幸生
Japan Quality Assurance Organization
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丸谷 義郎
Ntt Hi研
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高橋 多助
日本品質保証機構
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高橋 多助
日本品質保証機構計量計測センター
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落合 直文
Japan Quality Assurance Organization
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高橋 多助
Japan Quality Assurance Organization
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丸谷 義郎
NTT, HI研
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落合 直文
(財)日本品質保証機構
著作論文
- II 形標準マイクロホンの音場補正量について
- 標準マイクロホンの音場絶対校正における測定再現性について
- II形標準マイクロホンの音場絶対校正
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第6報) -測定時にマイクロホンに加わる歪みの影響について-
- 電子ビーム溶接された振動膜を用いたコンデンサマイクロホンの試作
- II形標準マイクロホン音響中心の位置測定の安定性
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第5報) -マイクロホンとプリアンプの接続部に加わる接触圧の影響について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第4報) -マイクロホンの不安定性の原因について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第3報) -I型標準マイクロホンB&K4160の場合-
- 音場校正における伝達特性測定誤差の検討 -無響室中の空気乱れの影響-
- JQAにおける音響標準校正装置について
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第2報) -マイクロホンの静電容量の安定性との関係について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因 -マイクロホン自体の安定性について-
- II型標準マイクロホンの音場補正量の測定(第6報) -高周波数域での音響中心測定値の再現性-
- II型標準マイクロホンの音場補正量の測定(第5報) -音響中心測定値の再現性について-
- カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の安定性について -I形標準マイクロホンの場合-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第6報) -10kHz以上における電圧減衰量の時間変化の原因-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第5報) -セッティング方法に関係する電圧減衰量の時間変化の原因-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第4報) -セッティング直後における電圧減衰量の時間変化の原因-
- カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第3報) -電圧減衰量の温度係数・圧力係数の実測値による補正-