P3-40 位相共役光干渉計を用いた表面き裂の画像化に関する研究(ポスターセッション3(概要講演))
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概要
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- 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会の論文
- 2005-11-16
著者
-
松田 洋一
産総研
-
菊池 恒男
産総研
-
佐藤 宗純
産総研
-
菊池 恒男
電総研
-
菊池 恒男
Nmij 産総研
-
佐藤 宗純
秋田県大 システム科学技術
-
佐藤 宗純
NMIJ 産総研
-
中野 英俊
産総研
-
中野 英俊
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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