松田 洋一 | 産総研
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概要
関連著者
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松田 洋一
産総研
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吉岡 正裕
産業技術総合研究所 計測標準研究部門
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菊池 恒男
産業技術総合研究所nmu(計測標準研究部門)
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菊池 恒男
産総研
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菊池 恒男
産総研NMIJ
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佐藤 宗純
産総研
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佐藤 宗純
秋田県大 システム科学技術
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吉岡 正裕
産総研
-
佐藤 宗純
NMIJ 産総研
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松田 洋一
産総研計測標準研究部門
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吉岡 正裕
産総研計測標準研究部門
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内田 武吉
産総研計測標準研究部門
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菊池 恒男
産総研計測標準研究部門
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中野 英俊
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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内田 武吉
産業技術総合研究所nmu(計測標準研究部門)
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菊池 恒男
電総研
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菊池 恒男
Nmij 産総研
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中野 英俊
産総研
著作論文
- 1P2a-7 光干渉計を用いた水中超音波音圧計測における音響光学効果の評価(ポスターセッション)
- 超音波計測 NMIJ/産総研で開始した超音波標準供給--振動子出力校正とハイドロホン感度校正
- P3-25 ハイドロホン相反校正における超音波非線形伝搬の影響(ポスターセッション3(概要講演))
- P3-40 位相共役光干渉計を用いた表面き裂の画像化に関する研究(ポスターセッション3(概要講演))
- 超音波計測 ハイドロホン受波電極の有効径測定--集束音場を用いたハイドロホン感度校正への影響
- 光干渉法を用いた反射法によるハイドロホン校正システムの開発 (超音波)
- 1Pb-16 光干渉法を用いた反射法によるハイドロホン校正装置の開発(ポスターセッション)
- 二光波混合法によるレーザ超音波システムを用いた表面き裂の評価 (特集 レーザ超音波の新展開)
- 光干渉法を用いた反射法によるハイドロホン校正システムの開発(アコースティックイメージング,一般)