B-3 「薄膜透過入射法」を用いた超音波パワー測定の不安定性(材料・計測,口頭発表)
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概要
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- 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会の論文
- 2002-11-07
著者
-
菊池 恒男
産総研
-
佐藤 宗純
産総研
-
佐藤 宗純
秋田県大 システム科学技術
-
吉岡 正裕
産業技術総合研究所 計測標準研究部門
-
吉岡 正裕
産総研
-
佐藤 宗純
NMIJ 産総研
-
菊池 恒男
産業技術総合研究所nmu(計測標準研究部門)
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