HAADF-STEMによるSrTiO_3中Bi分布の定量解析

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概要

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• 2000-05-01

著者

• 川崎 正博

  Jeol U.s.a.

• 川崎 正博

  日本電子株式会社

• 川崎 正博

  日本電子(株)電子光学機器技術本部応用研究センター1g

• 山崎 貴司

  東理大理

• 渡辺 和人

  都立高専

• 塩尻 詢

  金沢医大

• 塩尻 詢

  金沢医大・解剖1

• 塩尻 詢

  金沢医大:京工繊大

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