土屋 龍太 | 日立製作所
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概要
関連著者
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土屋 龍太
日立製作所
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石垣 隆士
日立製作所
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土屋 忠厳
日立電線
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石垣 隆士
日立製作所中央研究所
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石垣 隆士
(株)日立製作所中央研究所
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中村 徹
法政大学
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野本 一貴
法政大学
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三島 友義
日立電線株式会社
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三島 友義
日立電線
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野本 一貴
法政大学マイクロナノテクノロジー研究センター
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金田 直樹
日立電線
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畠山 義智
法政大学
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片寄 秀雄
法政大学
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寺野 昭久
日立製作所
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土屋 朋信
日立製作所
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望月 和浩
日立製作所
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望月 和浩
日立製作所中央研究所
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杉井 信之
(株)日立製作所中央研究所
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杉井 信之
日立製作所・中央研究所
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望月 和浩
(株)日立製作所 中央研究所
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中村 徹
法政大学工学部電気電子工学科
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土屋 朋信
日立製作所中央研究所
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土屋 龍太
日立製作所中央研究所
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森田 祐介
日立製作所中央研究所
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吉元 広行
日立製作所中央研究所
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木村 紳一郎
日立製作所中央研究所
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木村 紳一郎
日立製作所中央研究所ulsi研究部
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土屋 龍太
(株)日立製作所中央研究所
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森田 祐介
(株)日立製作所中央研究所
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中村 徹
法政大学 マイクロ・ナノテクノロジー研究センター
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中村 徹
法政大学工学部
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寺野 昭久
株式会社 日立製作所
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金田 直樹
日立電線(株)技術研究所先端電子材料研究部
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鳥居 和功
日立製作所中央研究所
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鳥居 和功
日立・中研
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鳥居 和功
日立製作所 中央研究所
著作論文
- 低不純物濃度チャネルで統計ゆらぎの小さい薄膜BOX-SOI(SOTB)のV_ばらつき解析(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- 微細CMOSの特性ばらつき問題を解決するドーパントレスFDSOI : SOTB
- フォトン・リサイクリングGaN p^+nダイオード(化合物半導体デバイス及び超高周波デバイス/一般)
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- フォトン・リサイクリングGaN p^+nダイオード
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