金田 直樹 | 日立電線

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概要

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• 同名の論文著者
• 日立電線の論文著者

関連著者

• 三島 友義

  日立電線株式会社

• 金田 直樹

  日立電線

• 野本 一貴

  法政大学

• 野本 一貴

  法政大学マイクロナノテクノロジー研究センター

• 土屋 忠厳

  日立電線

• 中村 徹

  法政大学

• 三島 友義

  日立電線

• 畠山 義智

  法政大学

• 金田 直樹

  日立電線(株)技術研究所先端電子材料研究部

• 土屋 龍太

  日立製作所

• 片寄 秀雄

  法政大学

• 寺野 昭久

  日立製作所

• 石垣 隆士

  日立製作所

• 土屋 朋信

  日立製作所

• 望月 和浩

  日立製作所

• 中村 徹

  法政大学工学部電気電子工学科

• 望月 和浩

  日立製作所中央研究所

• 中村 徹

  法政大学 マイクロ・ナノテクノロジー研究センター

• 中村 徹

  法政大学工学部

• 望月 和浩

  (株)日立製作所 中央研究所

• 土屋 朋信

  日立製作所中央研究所

• 石垣 隆士

  日立製作所中央研究所

• 塩島 謙次

  福井大学大学院工学研究科

• 石垣 隆士

  (株)日立製作所中央研究所

• 塩島 謙次

  NTTフォトニクス研究所

• 寺野 昭久

  株式会社 日立製作所

• 三島 友義

  日立電線(株)

• 高橋 利文

  福井大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 梶原 隆司

  九州大学大学院工学研究院航空宇宙工学部門

• 田中 悟

  九州大学大学院工学研究院

• 河野 敏弘

  日立電線

• 三島 友義

  日立電線(株)技術研究所先端電子材料研究部

• 野本 一貴

  ノートルダム大学

• 梶原 隆司

  九州大学大学院工学研究院エネルギー量子工学部門

• 塩島 謙次

  福井大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

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著作論文

• Electrical Characteristics of Surface Stoichiometry Controlled p-GaN Schottky Contacts (電子デバイス)
• Effect of ICP Etching on p-type GaN Schottky Contacts (電子デバイス)
• GaN基板上高耐圧GaN pn接合ダイオード
• フォトン・リサイクリングGaN p^+nダイオード(化合物半導体デバイス及び超高周波デバイス/一般)
• フォトン・リサイクリングGaN p^+nダイオード(化合物半導体デバイス及び超高周波デバイス/一般)
• フォトン・リサイクリングGaN p^+nダイオード
• フォトン・リサイクリングGaN p^+nダイオード
• p形GaNショットキー接触におけるICPエッチングの影響(半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)
• 表面ストイキオメトリを制御したp-GaNショットキー接触の電気的特性(半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)

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