高橋 利文 | 福井大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
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概要
関連著者
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塩島 謙次
福井大学大学院工学研究科
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塩島 謙次
NTTフォトニクス研究所
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三島 友義
日立電線株式会社
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金田 直樹
日立電線
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三島 友義
日立電線(株)
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金田 直樹
日立電線(株)技術研究所先端電子材料研究部
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高橋 利文
福井大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
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梶原 隆司
九州大学大学院工学研究院航空宇宙工学部門
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野本 一貴
法政大学
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野本 一貴
法政大学マイクロナノテクノロジー研究センター
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田中 悟
九州大学大学院工学研究院
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三島 友義
日立電線(株)技術研究所先端電子材料研究部
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野本 一貴
ノートルダム大学
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梶原 隆司
九州大学大学院工学研究院エネルギー量子工学部門
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塩島 謙次
福井大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
著作論文
- p形GaNショットキー接触におけるICPエッチングの影響(半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)
- 表面ストイキオメトリを制御したp-GaNショットキー接触の電気的特性(半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)