江頭 靖幸 | 大阪大 大学院基礎工学研究科
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概要
関連著者
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江頭 靖幸
大阪大 大学院基礎工学研究科
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江頭 靖幸
大阪大学大学院基礎工学研究科
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斎藤 丈靖
九州大学 工学部
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小宮山 宏
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小宮山 宏
東京大学大学院工学系研究科 化学システム工学専攻
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斉藤 丈靖
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江頭 靖幸
東京大学大学院工学系研究科化学システム工学専攻
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霜垣 幸浩
東京大学大学院工学系研究科マテリアル工学専攻
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霜垣 幸浩
東京大学工学系研究科
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霜垣 幸浩
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豊橋技術科学大学 エコロジー工学系
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永田 晋二
東北大金研
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東北大学金属材料研究所
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玉置 直樹
(株)東芝研究開発センター
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(株)東芝研究開発センター
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(株)東芝研究開発センター
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斎藤 丈靖
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東京大学工学部化学システム工学科
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齊藤 丈靖
東京大学工学部化学システム工学科
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佐藤 裕輔
東芝研究開発センター
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(株)東芝
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高広 克己
京都工芸繊維大学工芸学部
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東京大学工学部 化学工学科
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東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻
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杉山 正和
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永田 晋二
東北大学 金属材料研究所
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杉山 正和
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東京大学工学部化学システム工学科
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霜垣 幸浩
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金 煕濬
豊橋技術科学大学
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山口 貞衛
東北大学 金属材料研究所
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石川 政彦
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日本大学工学部
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霜垣 幸治
東京大学大学院工学研究科
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斉藤 丈靖
九州大学工学部応用物質化学科
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東北大学金属材料研究所
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会田 弘文
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江頭 靖幸
東京大学工学部 化学工学科
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豊嶋 勇
北海道大学触媒化学研究センター
著作論文
- TEOS/O_3系常圧熱CVDによるSiO_2初期成膜過程のAFM・XPSによる観察と形態変化メカニズム
- CVD薄膜生成時の反応ガス濃度分布可視化 : 化合物半導体Inp薄膜生成シュミレーションの例
- DSMC法を用いたCVDステップカバレッジシミュレーションの高速化
- DSMC法による半導体薄膜成長シミュレーションの高速化
- 3次元コンピュータシミュレーションを利用したCVD装置設計 - ガスアウトレットの効果 -
- WSix-CVDプロセスの3次元装置シミュレーション
- 1. CVD レビュー序論
- WSix薄膜CVDプロセスの反応機構解析と制御
- TiCl_4/NH_3を原料としたTiN薄膜CVD合成の反応機構
- WSi_x-CVDプロセスの反応機構 : WF_6/SiH_4,WF_6/Si_2H_6反応系の比較
- WF_6/Si_2H_6によるWSi_xブランケットCVDのモデリングとシミュレーション
- H_2, SiH_4, Si_2H_6添加によるDCS-WSix-CVDプロセスの改善
- 概要設計を目的とした基板加熱型 CVD 反応器のモデル化
- 常圧熱CVDによるAlN/TiN複合系成膜反応機構の解析
- Computer Aided Reaction Designを用いたCVDにおける問題解決へのアプローチ
- 常圧熱CVDによるAlN膜合成における配向性の制御
- Micro-Trench法によるAPCVDにおける表面反応速度定数の測定
- NiZrアモルファス合金の表面状態とガス吸着