北林 博人 | 日本電信電話株式会社フォトニクス研究所

スポンサーリンク

概要

• 北林 博人の詳細を見る
• 同名の論文著者
• 日本電信電話株式会社フォトニクス研究所の論文著者

関連著者

• 北林 博人

  日本電信電話株式会社フォトニクス研究所

• 村田 浩一

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 村田 浩一

  日本電信電話株式会社

• 山根 康朗

  NTTエレクトロニクス(株)

• 山根 康朗

  日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所

• 杉谷 末広

  日本電信電話株式会社 Nttフォトニクス研究所

• 杉谷 末広

  Ntt フォトニクス研

• 深井 佳乃

  NTTフォトニクス研究所

• 村田 浩一

  日本電信電話(株)ntt Lsi研究所

• 北林 博人

  NTTフォトニクス研究所

• 北林 博人

  日本電信電話(株)環境エネルギー研究所

• 佐野 公一

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 菅原 裕彦

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 榎木 孝知

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 村田 浩一

  NTTフォトニクス研究所

• 榎木 孝知

  日本電信電話株式会社 Nttフォトニクス研究所

• 菅原 裕彦

  NTTアドバンステクノロジ(株)

• 佐野 公一

  日本電信電話株式会社

• 杉谷 末広

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 榎木 孝知

  日本電信電話株式会社

• 佐野 公一

  日本電信電話(株)NTTフォトニクス研

• 杉谷 末広

  日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所

• 杉谷 末広

  Ntt システム・エレクトロニクス研

• 杉谷 末広

  日本電信電話(株)

• 宮本 裕

  NTT未来ねっと研究所

• 榎木 孝知

  NTTフォトニクス研究所

• 牧村 隆司

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 楳田 洋太郎

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 榎木 孝知

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 石井 康信

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 石井 康信

  Nttフォトニクス研究所

• 杉谷 末広

  NTTフォトニクス研究所

• 楳田 洋太郎

  Nttフォトニクス研究所

• 楳田 洋太郎

  Nttフォトニクス研

• 村口 正弘

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 山根 康朗

  NTTフォトニクス研究所

• 村口 正弘

  NTTフォトニクス研究所

• 牧村 隆司

  NTTフォトニクス研究所NTT株式会社

• 山根 康朗

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 深井 佳乃

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 北林 博人

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 楳田 洋太郎

  日本電信電話株式会社 Nttフォトニクス研究所

• 渡邉 則之

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 古田 知史

  NTTフォトニクス研究所

• 清水 直文

  NTTフォトニクス研究所

• 渡辺 則之

  NTTフォトニクス研究所

• 木村 俊二

  日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所

• 木村 俊二

  日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所

• 古田 知史

  Ntt フォトニクス研

• 佐野 公一

  日本電信電話(株)NTTフォトニクス研究所

• 福山 裕之

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 古田 知史

  日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所

• 山根 康朗

  日本電信電話株式会社フォトニクス研究所

• 渡邉 則之

  Nttフォトニクス研究所

• 村田 浩一

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 福山 裕之

  Nttフォトニクス研究所

• 福山 裕之

  Nttシステムエレクトロニクス研究所

• 木村 俊二

  NTTフォトニクス研究所

• 佐野 栄一

  NTTフォトニクス研究所

• 村田 浩一

  日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所

• 古田 知史

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所索

• 宮本 裕

  日本電信電話株式会社NTT未来ねっと研究所

• 米永 一茂

  日本電信電話株式会社NTT未来ねっと研究所

• 村田 浩一

  Ntt未来ねっと研究所

• 杉山 聡

  日本電信電話株式会社NTTコミュニケーション科学基礎研究所

• 米永 一茂

  日本電信電話(株)未来ねっと研究所

• 杉山 聡

  Ntt環境エネルギー研究所

• 桑原 昭一郎

  日本電信電話株式会社NTT未来ねっと研究所

• 多田 康彦

  日本電信電話株式会社NTT未来ねっと研究所

• 清水 直文

  日本電信電話株式会社 NTTフォトニクス研究所

• 鳥羽 弘

  日本電信電話株式会社 NTTフォトニクス研究所

• 鳥羽 弘

  NTTフォトニクス研究所

• 渡邊 則之

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 渡邊 則之

  Nttフォトニクス研究所

• 鳥羽 弘

  日本電信電話株式会社ntt光エレクトロニクス研究所

• 清水 直文

  Ntt未来ねっと研究所

• 佐野 栄一

  NTT未来ねっと研究所

• 木村 俊二

  Ntt未来ねっと研究所

• 北林 博末

  日本電信電話株式会社

• 宮本 裕

  日本電信電話(株) Nttアクセスサービスシステム研究所

• 宮本 裕

  Ntt 未来ねっと研

• 杉山 聡

  日本電信電話(株)環境エネルギー研究所

• 張 暁曦

  日本電信電話(株)環境エネルギー研究所

• 米永 一茂

  日本電信電話(株)ntt未来ねっと研究所

• 宮本 裕

  日本電信電話

• 北林 博人

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

もっと見る 閉じる

著作論文

• InP HEMTトランスインピーダンス増幅器を用いた超40Gbit/s光受信モジュール(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス)
• B-10-96 モノリシックデジタルOEIC受信モジュールを用いた43Gbit/s, 200Km無中継伝送実験
• 40Gbit/s光通信用 Digital OEIC
• InP HEMTトランスインピーダンス増幅器を用いた超40Gbit/s光受信モジュール(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス)
• C-10-3 多相クロック構成による 50 Gbit/s InP HEMT 4 : 1 マルチプレクサ /1 : 4 デマルチプレクサ IC
• InP HEMTのドレイン抵抗変化のバイアス依存性と回路の信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)
• InP HEMTのドレイン抵抗変化のバイアス依存性と回路の信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)
• InP HEMTのドレイン抵抗増大のバイアス加速とICの低電圧化による寿命の向上(AWAD2003 : 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショツプ)
• InP HEMTのドレイン抵抗増大のバイアス加速とICの低電圧化による寿命の向上(AWAD2003(先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ))
• InP HEMTを用いた100-Gbit/s論理IC
• C-10-7 50 Gbit/s InP HEMT 差動出力リミッティングアンプ IC
• InP HEMT を用いた100-Gbit/s論理IC
• InP HEMTを用いた100-Gbit/s論理IC
• 40Gbit/s光伝送用InP-HEMT IC製作技術
• 40Gbit/s光伝送用InP-HEMT IC製作技術
• 40Gbit/s光伝送用InP-HEMT IC製作技術
• 40Gbit/s光伝送用InP-HEMT IC製作技術
• C-3-124 単一走行キャリアフォトダイオードとInP HEMT識別回路からなる40-Gbit/sモノリシック集積ディジタルOEICモジュール
• 単一走行キャリアフォトダイオードとInP HEMT識別器からなる40-Gbit/sモノリシック集積ディジタルOEICモジュール
• 単一走行キャリアフォトダイオードとInP HEMT識別器からなる40-Gbit/sモノリシック集積ディジタルOEICモジュール
• A-9-2 人口密度を用いた通信設備の雷害故障数の予測法の検討(A-9.信頼性,一般セッション)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク