鈴木 久満 | NEC ULSIデバイス開発研究所
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概要
関連著者
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鈴木 久満
NEC ULSIデバイス開発研究所
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鈴木 久満
Nec 先端デバイス開発本部
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山崎 亨
Nec 先端デバイス開発本部
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Nec Ulsiデバイス開発研究所
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Nec 先端デバイス開発本部
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鈴木 久満
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NEC
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NECシステムIPコア研究所
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NECエレクトロニクス株式会社基盤技術開発本部
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NEC ULSIデバイス開発研究所
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Nec Ulsiデバイス開発研究所
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Selete
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Necエレクトロニクス(株)
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NEC ULSIデバイス開発研究所
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Nec
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NECマイクロエレクトロニクス研究所システムULSI研究部
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NECシステムプラットフォーム研究所
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NECシリコンシステム研究所
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Nec マイクロエレクトロニクス研究所システムulsi研究部
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熊谷 浩一
NECULSIデバイス開発研究所
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吉田 宏
NECULSIデバイス開発研究所
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山田 和志
NECULSIデバイス開発研究所
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黒沢 晋
NECULSIデバイス開発研究所
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Nec C&cメディア研
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日本電気株式会社c&cメディア研究所
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深石 宗生
Nec
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田島 章雄
Nec
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武田 晃一
NEC
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Nec
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日本電気(株)
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NECマイクロエレクトロニクス研究所
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深石 宗生
日本電気(株)
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日本電気(株)
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田島 章雄
NEC光エレクトロニクス研究所
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NECシステムデバイス研究所
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日本電気(株)c&cメディア研究所
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NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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NEC光エレクトロニクス研究所
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NEC
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日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所
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日本電気株式会社 先端デバイス開発本部
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佐藤 文彦
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青山 亨
日本電気株式会社 先端デバイス開発本部
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鈴木 久満
日本電気株式会社 先端デバイス開発本部
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吉田 宏
日本電気株式会社 先端デバイス開発本部
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藤井 宏基
日本電気株式会社 先端デバイス開発本部
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山崎 亨
日本電気株式会社 先端デバイス開発本部
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宮本 秀信
日本電気(株)necエレクトロンディバイス 光端デバイス開発本部 高集積技術gr
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山崎 亨
日本電気(株) 超lsi開発本部
著作論文
- 疑似電源線クランプ方式を用いた低Vt CMOS回路向けパワーダウン構成
- SC-12-7 2.125Gb/s BiCMOS ファイバチャネル送信LSI
- AV-DSPDアーキテクチャを用いた4.25GHz BiCMOSクロックリカバリ回路
- 4 Gb/s光データリンク用BiCMOS PLL回路 : クロック逓倍回路、クロック抽出回路
- 疑似電源線クランプ方式を用いた低Vt CMOS回路向けパワーダウン構成
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- ワード線リセットコライズによる大容量SRAMの高速化技術
- PLLによるクロック比例タイミング発生回路を搭載した220MHzパイプライン動作の16Mb BiCMOS SRAM
- AV-DSPDアーキテクチャを用いた4.25GHz BiCMOSクロックリカバリ回路
- SiGeBiCMOS技術における熱処理トレードオフおよびボロンスパイク効果低減の検討
- リング形状の外部ベースにコバルトシリサイドを適用した0.15μm/73GHzfmaxのRF対応BiCMOS技術
- リング形状の外部ベースにコバルトシリサイドを適用した0.15μm/73GHzfmaxのRF対応BiCMOS技術
- リング形状の外部ベースにコバルトシリサイドを適用した0.15μm/73GHzfmaxのRF対応BiCMOS技術
- 6ns 1.5V 4Mb BiCMOS SRAMの低電圧回路技術