3A15 TEM, XRD による PMN/LSCO/CeO_2/YSZ/Si 薄膜のインテグレート構造と誘電率の膜厚依存性
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概要
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- 日本セラミックス協会の論文
- 2000-10-11
著者
-
水谷 惟恭
東工大大学院理工学研究科
-
木口 賢紀
東京工業大学総合分析支援センター
-
木口 賢紀
東工大
-
篠崎 和夫
東工大
-
佐伯 淳
東工大工
-
佐伯 淳
東京工業大学総合分析支援センターx線分析室
-
脇谷 尚樹
東工大院工
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