木口 賢紀 | 東工大
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概要
関連著者
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木口 賢紀
東工大
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脇谷 尚樹
東工大院工
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水谷 惟恭
東工大大学院理工学研究科
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木口 賢紀
東京工業大学総合分析支援センター
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篠崎 和夫
東工大
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水谷 惟恭
国立東京高等工業専門学校
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篠崎 和夫
東京工業大学大学院理工学研究科
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脇谷 尚樹
東工大
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篠崎 和夫
東工大院
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佐伯 淳
東工大工
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佐伯 淳
東京工業大学総合分析支援センターx線分析室
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水谷 惟恭
東工大院工
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Shinozaki K
Tokyo Inst. Technol. Tokyo Jpn
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陳 軍華
東工大
著作論文
- 3L19 π種々の希土類元素を添加したジルコニアゲート絶縁膜の界面構造の高分解能 TEM 観察
- 1F25 Mosaic defect identification in multi-heteroepitaxial films by high-resolution X-ray diffraction
- 3A15 TEM, XRD による PMN/LSCO/CeO_2/YSZ/Si 薄膜のインテグレート構造と誘電率の膜厚依存性
- 3D03 加熱 TEM 観察による PZT 薄膜の結晶成長に及ぼすシード層の効果の解明
- 1D23 加熱 TEM 観察による YSZ/SiOx/Si 薄膜における SiOx 層の還元過程の解明
- 3D04 CeO_2/ZrO_2/Si 多層膜界面構造の HRTEM 観察