佐伯 淳 | 東京工業大学総合分析支援センターx線分析室

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概要

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関連著者

• 佐伯 淳

  東京工業大学総合分析支援センターx線分析室

• 佐伯 淳

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 水谷 惟恭

  東京工業大学

• 篠崎 和夫

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 篠崎 和夫

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 水谷 惟恭

  国立東京高等工業専門学校

• 木口 賢紀

  東京工業大学総合分析支援センター

• 篠崎 和夫

  東京工大 大学院理工学研究科

• 篠崎 和夫

  東工大院工

• 脇谷 尚樹

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 佐伯 淳

  東工大工

• 脇谷 尚樹

  東京工大 大学院理工学研究科

• 寺山 清志

  富山大学大学院理工学研究部(工学)

• 石沢 伸夫

  名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター

• 石澤 伸夫

  東工大応セラ研

• 寺山 清志

  富山大学工学部

• Wakiya Naoki

  Department Of Materials Science And Chemical Engineering Shizuoka University

• 石沢 伸夫

  名古屋工大 セラミックス基盤工学研究セ

• 桜井 修

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 石沢 伸夫

  東京工業大学セラミックス研究所

• 佐伯 淳

  東工大

• 桜井 修

  東京工業大学大学院材料工学専攻

• 神田 肇

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• Wakiya Naoki

  Graduate School Of Sci. And Technol. Shizuoka Univ.

• 加藤 誠軌

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 篠崎 和夫

  東工大院理工

• 水谷 惟恭

  東工大院理工

• 舟窪 浩

  東京工大 工

• 船窪 浩

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 加藤 誠軌

  東京工業大学

• 内田 寛

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 寺山 清志

  富山大 工

• 水谷 惟恭

  東工大大学院理工学研究科

• 安田 公一

  東京工業大学

• 藤井 義博

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 林 進浩

  慶北大学校工科大学無機材料工学科

• 木口 賢紀

  東工大

• 篠崎 和夫

  東工大

• 脇谷 直樹

  東工大院理工

• 舟窪 浩

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 松尾 陽太郎

  東京工業大学大学院

• 石澤 伸夫

  東工大工材研

• 松尾 陽太郎

  東工大院

• 脇谷 尚樹

  東工大院工

• 多々見 純一

  横浜国立大学環境情報研究院

• 車 声雷

  TDK(株)材料・プロセス技術開発センター

• 舟窪 浩

  東京工業大学大学院 総合理工学研究科 物質科学創造専攻

• 石澤 伸夫

  東京工業大学工業材料研究所

• 篠[ザキ] 和夫

  東京工業大学大学院理工学研究科材料工学専攻

• 車 声雷

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 松山 勝美

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 安田 公一

  東京工業大学大学院材料工学専攻

• 多々見 純一

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 添田 将

  東京工業大学工学部無機材料工学科

• 趙 相熙

  慶北大学校工科大学無機材料工学科

• 漆原 亘

  神戸製鋼所(株)材料研究所

• 車 声雷

  住友金属鉱山

• 松尾 陽太郎

  東京工業大学

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著作論文

• 超音波噴霧ICPフラッシュ蒸着法による異種組成ジルコニア薄膜の積層化
• バッファーレイヤーのセラミック薄膜への適用
• 3D04 セラミックス薄膜の高温格子変化における基板及びバッファー層の影響
• X線トポグラフ法による単結晶アルミナ破面の転位の同定
• 初めての人の七宝焼
• 鉛系正方晶ペロブスカイト構造強誘電体薄膜のc軸配向度決定機構の解明 (特集 私の自慢の研究)
• 噴霧熱分解法による球状Pd単結晶粒子の合成プロセスにおける粒子内部構造の発達過程
• Y-PSZ結晶における応力誘起変態のSEM観察
• C型希土類酸化物Yb_2O_3及びEr_2O_3の高温構造変化
• エピタキシャルチタン酸鉛薄膜の誘電特性に及ぼす外的応力印加により生じる残留応力の影響
• 非対称X線回折によるエピタキシャル薄膜の残留応力の評価手法
• 結晶構造の観点から見たPbMg_Nb_O_3のパイロクロア型化合物への熱分解挙動
• 粉末X線回折データ(PDF-2)とは
• 粉末X線回折データの検索の実際
• 半導性SrTiO_3単結晶接合界面の微構造と酸化還元処理によるI-V特性の変化
• 3A15 TEM, XRD による PMN/LSCO/CeO_2/YSZ/Si 薄膜のインテグレート構造と誘電率の膜厚依存性
• 3G03 応力印加基板を用いて成膜したセラミックス薄膜におけるドメインスイッチングと配向性制御
• 3 mol%Y_2O_3-ZrO_2の強弾性ドメインスイッチングに及ぼす相分離の影響
• セリア部分安定化ジルコニアの強弾性ドメインスイッチングの臨界応力に及ぼす軸比の影響
• ジルコニアの強弾性ドメインスイッチングに及ぼす希土類イオン半径の影響
• PZTの圧電性と圧縮強度に及ぼす加電圧の影響
• 正方晶ジルコニア擬単結晶の強弾性ドメインスイッチングと酸素欠陥の関係
• ジルコニア結晶の強弾性ドメインスイッチングに及ぼす応力,温度の影響
• ZrO2と強弾性ドメインスイッチング
• 電気化学的還元したY-PSZ結晶の酸素欠損領域の生成機構
• 電気化学的還元した Y-, Ca-PSZ 結晶の相転移と酸素欠損
• 研磨処理したTZP表面のc_t軸配向性
• 直流通電しながら熱処理したイットリア部分安定化ジルコニア結晶の微構造及び相変化

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