X線トポグラフ法による単結晶アルミナ破面の転位の同定
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概要
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X-ray topographic images of several refraction planes of single crystal alumina were taken with the redection Berg-Barret techrlique of X-ray topography. Linear contrasts were observed in X-ray topographic images of fracture surfaces of single crystal alumina. It was shown that dislocations were produced due to the fracture of single crystal alumina even at the room temperature. The comparison among X-ray topograph images made it clear that there were dislocations with several types of Burgers vector near the frachre surface of single crystal alumina, and about 70% of the disloeations were the basal dislocations. X-ray topography is shown to be a powerful technique for obtaining information about dislocations near by the fracture surface of ceramics.
- 1999-11-01
著者
-
安田 公一
東京工業大学
-
佐伯 淳
東京工業大学工学部無機材料工学科
-
松尾 陽太郎
東京工業大学大学院
-
佐伯 淳
東京工業大学総合分析支援センターx線分析室
-
松尾 陽太郎
東工大院
-
多々見 純一
横浜国立大学環境情報研究院
-
安田 公一
東京工業大学大学院材料工学専攻
-
多々見 純一
東京工業大学工学部無機材料工学科
-
松尾 陽太郎
東京工業大学
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