端面非吸収窓構造を用いた超高出力青紫レーザ(半導体レーザ関連技術,及び一般)
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概要
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GaN系材料を用いた高出力半導体レーザは、ディスプレイ、光記録、加工などの幅広いアプリケーションのキーデバイスとして期待されている。半導体レーザの高出力化には、光吸収に起因する端面破壊の抑制が特に重要であり、光出射端面の禁制帯を選択的にワイドギャップ化して光非吸収にする端面窓構造の有効性が知られている。我々は、この端面窓構造を有する青紫レーザを、段差溝を設けたGaN基板上にレーザ構造をエピタキシャル成長する新たな手法により世界で初めて実現した。段差溝により近傍の結晶面の傾きを制御することで、活性層のIn組成を減少させ、結晶成長面の一部を局所的にワイドバンドギャップ化させることができる。これを利用し、光出射端面をワイドバンドギャップ化した青紫レーザを試作し、端面破壊を抑制して2Wを超える高い光出力を得た。
- 2010-12-10
著者
-
油利 正昭
松下電器産業(株)半導体社半導体デバイス研究センター
-
川口 真生
パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
-
折田 賢児
松下電器産業(株) 半導体社 半導体デバイス研究センター
-
油利 正昭
パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
-
油利 正昭
松下電器産業(株)半導体社 事業本部 半導体デバイス研究センター
-
山中 一彦
パナソニック(株)
-
瀧川 信一
パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
-
春日井 秀紀
パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
-
左文字 克哉
パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
-
萩野 裕幸
パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
-
折田 賢児
パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
-
山中 一彦
パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
-
油利 正昭
パナソニック セミコンダクター社 半導体デバイス研究セ
-
瀧川 信一
パナソニック株式会社 デバイス社 半導体デバイス開発センター
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