Closed-Form Expressions for Crosstalk Noise and Worst-Case Delay on Capacitively Coupled Distributed RC Lines(Physical Design,<Special Section>VLSI Design and CAD Algorithms)
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概要
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Closed-form expressions for a crosstalk noise amplitude and worst-case delay in capacitively coupled two-line and three-line systems are derived assuming bus lines and other signal lines in a VLSI. Two modes are studied; a case that adjacent lines are driven from the same direction, and the other case that adjacent lines are driven from the opposite direction. Beside, a junction capacitance of a driver MOSFET is considered. The closed-form expressions are useful for circuit designers in an early stage of a VLSI design to give insight to interconnection problems. The expressions are extensively compared and fitted to SPICE simulations. The relative and absolute errors in the crosstalk noise amplitude are within 63.8% and 0.098E (where E is a supply voltage), respectively. The relative error in the worst-case delay is less than 8.1%.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-12-01
著者
-
桜井 貴康
東京大学
-
SAKURAI Takayasu
Institute of Industrial Science, The University of Tokyo
-
桜井 貴康
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
-
Kawaguchi H
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo:(present Office)kobe University
-
KAWAGUCHI Hiroshi
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo
-
Sakurai Takayasu
Institute Of Industrial Science & Center For Collaborative Research The University Of Tokyo
-
Kawaguchi Hiroshi
Department Of Computer Science And Systems Engineering Kobe University
-
Kawaguchi Hiroshi
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo:(present Office)kobe University
-
Kawaguchi H
Univ. Tokyo Tokyo Jpn
-
Antono Danardono
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo:(present Office)sony Corporation
-
Antono Danardono
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo
-
Kawaguchi Hiroshi
Institute Of High Speed Mechanics Tohoku University
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