30aRD-10 電圧印加非接触原子間力顕微鏡法によるSi(111)7×7表面の電子状態解析(30aRD 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2009-03-03
著者
-
富取 正彦
北陸先端大材料
-
Arai Takeshi
The Faculty Of Engineering Saitama University
-
佐藤 大器
金大院自然
-
新井 豊子
金大院自然
-
富取 正彦
北陸先端科学技術大学院大
-
富取 正彦
北陸先端大
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