24aYF-13 ダンピング同時測定によるSi(111)面上のGe薄膜のnc-AFM観察(24aYF 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長分野))
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概要
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- 一般社団法人日本物理学会の論文
- 2002-03-01
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