31aWD-12 修飾探針を用いた非接触原子間力顕微鏡によるイオン性結晶表面の観察
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 2003-03-06
著者
-
新井 豊子
北陸先端大材料
-
Reichling M.
ミュンヘン大化学
-
Gritschneder S.
ミュンヘン大化学
-
Troger L.
ミュンヘン大化学
-
Barth C.
ミュンヘン大化学
-
新井 豊子
筑波大学院数理:科学技術振興機構sorst
-
新井 豊子
北陸先端大
関連論文
- 21aPS-7 NC-AFM探針-試料間に誘起する変位電流によるジュール熱の第一原理計算(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 31aWD-12 修飾探針を用いた非接触原子間力顕微鏡によるイオン性結晶表面の観察
- 27pPSA-2 水素終端Si(100)上に形成したAuナノ粒子のSTS II(領域9ポスターセッション)(領域9)
- 28pPSB-57 水素終端 Si(100) 上に形成した Au ナノ粒子の STS
- 19pYP-4 電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法による探針-試料間相互作用の解析(領域9シンポジウム : 原子間力顕微鏡法の新展開,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 25pWB-10 非接触原子間力分光法によるSi(111)7×7表面の電子状態の観察(表面・界面電子物性,領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 23aYD-6 探針と印加電圧による非接触原子間力顕微鏡像の変化
- 28aYQ-9 超高真空非接触原子間力顕微鏡を用いたトンネル電流と散逸の測定
- 24pZN-5 非接触原子間力顕微鏡の印加電圧依存性と画像化機構の考察
- 27aW-8 非接触原子間力顕微鏡によるSi(111)表面像の印加電圧効果
- NC-AFM像の印加電圧依存性と画像化技術
- 18aWH-1 電圧印加非接触原子間力分光法による2物体間結合力の共鳴的増大(招待講演,ナノ構造量子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 24aYF-13 ダンピング同時測定によるSi(111)面上のGe薄膜のnc-AFM観察(24aYF 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長分野))