DLTS Study on the Gradation of the Trap Concentration Profiles in n-CdTe Crystals
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 1985-11-20
著者
-
HAYAKAWA Satio
Dept. of Astrophys., Nagoya University, Nagoya.
-
Ishii Shozo
Tokyo Institute Of Technology
-
Hayakawa S
Department Of Engineering Fundamentals Hiroshima University
-
Hayakawa Shinjiro
Department Of Applied Chemistry University Of Tokyo
-
Ishii Shozo
Department Of Electrical And Electronic Engineering Tokyo Instutute Of Technology
-
HAYAKAWA Sohachiro
Department of Applied Physics, Tokyo Institute of Technology
-
TOMITORI Masahiko
Department of Applied Physics, Tokyo Institute of Technology
-
ISHII Sugio
Department of Applied Physics, Tokyo Institute of Technology
-
KURIKI Makoto
Department of Applied Physics, Tokyo Institute of Technology
-
富取 正彦
北陸先端科学技術大学院大
-
Kuriki Makoto
NTT Interdisciplinary Research Laboratories
-
Ishii S
Univ. Tsukuba Tsukuba Jpn
-
Hayakawa Sohachiro
Department Of Applied Physics Faculty Of Science Tokyo Institute Of Technology
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