21pWA-7 陽電子マイクロビームを用いたステンレス応力腐食割れ劣化の観察(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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概要

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• 2008-08-25

著者

• 前川 雅樹

  日本原子力研究開発機構先端基礎研

• 河裾 厚男

  日本原子力研究開発機構先端基礎研

• 河裾 厚男

  (独)日本原子力研究開発機構・先端基礎研センター

• 前川 雅樹

  原子力機構・先端基礎研

• 河裾 厚男

  原子力機構・先端基礎研

• 河裾 厚男

  日本原子力研究開発機構

• 平出 哲也

  日本原子力研究開発機構原子力基礎工

• 三輪 幸雄

  日本原子力研究開発機構原子力基礎工

• 河裾 厚男

  日本原子力研究所・高崎

• 前川 雅樹

  原研 高崎研

• 平出 哲也

  日本原子力研究所 物質科学研究部

• 前川 雅樹

  日本原子力研究開発機構 先端基礎研

• 前川 雅樹

  日本原子力研究所高崎研究所

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