28aWP-6 反射高速陽電子回折を用いたSi(111)-7x7表面における表面デバイ温度の精密測定(表面界面構造(半導体))(領域9)
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2004-03-03
著者
-
林 和彦
原研先端基礎研
-
深谷 有喜
原子力機構先端基礎研
-
一宮 彪彦
原子力機構先端基礎研
-
河裾 厚男
原研先端基礎研
-
一宮 彪彦
原研先端基礎研
-
深谷 有喜
原研先端基礎研
-
一宮 彪彦
名古屋大学大学院工学研究科
-
河裾 厚男
日本原子力研究開発機構
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