24aY-5 STM/RHEEDによる 6H-SiC(0001)表面の再構成の観察

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1999-09-03

著者

• 林 和彦

  原研先端基礎研

• 一宮 彪彦

  名大工

• 林 和彦

  名大工

• 久田 祥之

  株式会社デンソー

• 向中野 信一

  株式会社デンソー

• 久田 祥之

  デンソー基礎研

• 向中野 信一

  デンソー基礎研

• 一宮 彪彦

  名古屋大学工学部

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