25aWB-12 SiC(0001)√<3>×√<3>再構成表面のRHEEDロッキング曲線による研究

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2000-09-10

著者

• 一宮 彪彦

  名大工

• 久田 祥之

  株式会社デンソー

• 向中野 信一

  株式会社デンソー

• 青山 朋弘

  名大工

• 久田 祥之

  デンソー基礎研

• 向中野 信一

  デンソー基礎研

• 一宮 彪彦

  名古屋大学工学部

• 韓 玉杰

  名大工

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